MOSFET的柵極驅(qū)動損耗
功率開關(guān)MOSFET的柵極驅(qū)動相關(guān)的損耗，即下圖的高邊和低邊開關(guān)的“PGATE”所示部分。
柵極電荷損耗
柵極電荷損耗是由該例中外置MOSFET的Qg（柵極電荷總量）引起的損耗。
當(dāng)MOSFET開關(guān)時，電源IC的柵極驅(qū)動器向MOSFET的寄生電容充電（向柵極注入電荷）而產(chǎn)生這種損耗（參見下圖）。
這不僅是開關(guān)電源，也是將MOSFET用作功率開關(guān)的應(yīng)用中共同面臨的探討事項。
損耗是MOSFET的Qg乘以驅(qū)動器電壓和開關(guān)頻率的值。Qg請參考所使用的MOSFET的技術(shù)規(guī)格書。驅(qū)動器電壓或者實測，或者參考IC的技術(shù)規(guī)格書。
從該公式可以看出，只要Qg相同，則開關(guān)頻率越高損耗越大。
從提供MOSFET所需的VGS的角度看，驅(qū)動器電壓不會因電路或IC而有太大差異。MOSFET的選型和開關(guān)頻率因電路設(shè)計而異，因此，是非常重要的探討事項。
為了確保與其他部分之間的一致性，這里給出了開關(guān)的波形，但沒有表示柵極電荷損耗之處。
關(guān)鍵要點：
1.柵極電荷損耗是由MOSFET的Qg（柵極電荷總量）引起的損耗。
2.如果MOSFET的Qg相同，則損耗主要取決于開關(guān)頻率。
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